更新時(shí)間：2020-12-04 點(diǎn)擊次數(shù)：2504次
X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象，物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。
X射線衍射儀利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來獲得衍射后X射線信號(hào)特征，經(jīng)過處理得到衍射圖譜。利用譜圖信息不僅可以實(shí)現(xiàn)常規(guī)顯微鏡的確定物相，并擁有“透視眼”來看晶體內(nèi)部是否存在缺陷（位錯(cuò)）和晶格缺陷等。
主要應(yīng)用領(lǐng)域包括科研、化工、半導(dǎo)體和環(huán)境等。不斷增長的改善材料特性、提高生產(chǎn)效率的需求，將帶動(dòng)X射線衍射儀市場(chǎng)投資。近年來，便攜和在線的應(yīng)用逐漸增加；這主要是因?yàn)樵撛O(shè)備可以在生產(chǎn)車間現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用，并且操作簡單、方便使用。
X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構(gòu)成很相似，為X射線衍射儀的基本構(gòu)造原理圖，主要部件包括4部分。
?。?）高穩(wěn)定度X射線源：提供測(cè)量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長,調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。
（2）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)：樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。
?。?）射線檢測(cè)器：檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向,通過儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。
?。?）衍射圖的處理分析系統(tǒng)：現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng),它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。
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